精致型光学扫瞄系统
    发布时间: 2020-04-01 00:00    

测量范围:
x轴 100mm~200
 

Z1轴:60mm 

立柱:300~500mm

测量精度: 

x轴: (0.8+0.01L)μm 

Z1轴: ±(1.6+|2H|)μm 


精致型光学扫瞄系统
   精致型光学扫瞄系统
    ATOS Compact Scan

    精致型光学扫描系统在三维扫描与检测领域,定义了一个全新的设备等级。重量轻化,结构紧凑,开啟新的应用领域,并能维持极致的操作能力,如铸造和射出件、外观与模型、内部空间、原型、模型设计,...等。
先进的硬体与强大的软体完整的结合,以供执行扫描与检测的工作。密集的硬体和软体的培训计画和可靠的全球支援网络,形成一个完整的方案,这些都全基於有竞争力的售价。

    ATOS Compact Scan - The compact class of scanning
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