Y.MU2000-D已经证明自身是市场上的解决方案。其配备现代数字平板探测器和Y.HDR检测技术,提供具有高对比度显示的优质图像,现在可以升级到计算机断层扫描系统。
基于解耦操纵器的概念,X射线管和检测器可从检验项目独立移动,优化利用Y.MU2000-D检测封包,在低空间要求检查大型零部件。在不改变焦点-探测器距离(FDD)可能进行X光检测时,光束垂直移动和倾斜,因为X射线管和探测器被相互安装在U型臂上。
Y.MU2000-D 既可以用来做单个样品的检测也可以做系列样品的检测。即使对于钢铁,铝,陶瓷,塑料和橡胶以外的其他材料,它都能提供高水平的材料检测能力。
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